Jerry Tersoff - Jerry Tersoff
Jerry Tersoff è un membro dello staff di ricerca presso l' IBM Thomas J. Watson Research Center . Il suo lavoro abbraccia diversi argomenti nella comprensione teorica di superfici, interfacce, materiali elettronici, crescita epitassiale e dispositivi su scala nanometrica. Nel corso della sua carriera, il suo lavoro ha enfatizzato l'uso di modelli semplici per comprendere comportamenti complessi.
Premi e riconoscimenti
- 1988 Premio Peter Mark Memorial "Per approcci innovativi alla comprensione teorica della struttura elettronica, delle proprietà e della misurazione di superfici e interfacce".
- 1996 Medaglia MRS "Per contributi fondamentali alla teoria del rilassamento della deformazione nei film sottili".
- 1997 Premio Davisson-Germer in fisica atomica o di superficie "Per descrizioni teoriche approfondite e creative della fenomenologia superficiale; in particolare della dinamica di crescita dei cristalli, delle strutture superficiali e delle loro sonde".
- 2007 Medard W. Welch Award "Per contributi teorici seminali alla comprensione di superfici, interfacce, film sottili e nanostrutture di materiali elettronici."
- 2018 National Academy of Engineering "Per contributi teorici alla scienza ingegneristica della crescita e della modellazione dei materiali, dispositivi elettronici su scala nanometrica e interfacce a semiconduttore."
- Premio Von Hippel della società di ricerca sui materiali 2019 "Per aver migliorato la comprensione di materiali, superfici e interfacce elettronici a bassa dimensione e su scala nanometrica, attraverso eleganti modelli teorici che mettono in evidenza la fisica essenziale che controlla la crescita, la struttura e le proprietà elettroniche."
Guarda anche
Riferimenti
  
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